北京時(shí)代光南檢測(cè)技術(shù)有限公司
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2500覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2500覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2500覆層測(cè)厚儀|漆膜測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金...
產(chǎn)品型號(hào)：所在地：北京市更新時(shí)間：2025-04-02 在線留言
詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2501覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2501覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2501渦流測(cè)厚儀|氧化膜測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行非磁...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2510覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2510覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2510涂層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2601覆層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2605高精度涂層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2605高精度涂層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2605高精度涂層測(cè)厚儀一種便攜式測(cè)量?jī)x，采用磁性測(cè)量方法，它能快速、無(wú)...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2606高精度覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2606高精度覆層測(cè)厚儀概述產(chǎn)品概述時(shí)代TIME2606高精度覆層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2812/TIME2822涂層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2812/TIME2822涂層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2812涂層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TIME2600覆層測(cè)厚儀時(shí)代TIME2600覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TIME2600覆層測(cè)厚儀是一種便攜式涂層測(cè)量設(shè)備，具有磁性原理和渦流原理
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TT220覆層測(cè)厚儀時(shí)代TT220覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TT220覆層測(cè)厚儀|漆膜測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TT230覆層測(cè)厚儀時(shí)代TT230覆層測(cè)厚儀概述時(shí)代TT230渦流測(cè)厚儀|氧化膜測(cè)厚儀是一種超小型測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行非磁性金屬基體上非導(dǎo)電...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TT210涂鍍層測(cè)厚儀時(shí)代TT210涂鍍層測(cè)厚儀概述時(shí)代TT210鍍層測(cè)厚儀|涂鍍層測(cè)厚儀是磁性、渦流一體的便攜式覆層測(cè)厚儀，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂...
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詳細(xì)摘要： 時(shí)代TT260涂層測(cè)厚儀時(shí)代TT260涂層測(cè)厚儀概述時(shí)代TT260涂層測(cè)厚儀|防腐層測(cè)厚儀是一種便攜式測(cè)量?jī)x，它能快速、無(wú)損傷、精密地進(jìn)行涂、鍍層厚度的測(cè)量；既...
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詳細(xì)摘要： NCT-1電解鍍層測(cè)厚儀NCT-1電解鍍層測(cè)厚儀概述NCT-1型多功能電解鍍層測(cè)厚儀是新一代的金屬鍍層測(cè)厚儀，該儀器是根據(jù)電化學(xué)中的庫(kù)倫定理（Q=nF）與現(xiàn)代技...
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詳細(xì)摘要： 涂層測(cè)厚儀探頭涂層測(cè)厚儀F1探頭工作原理：磁感應(yīng)|分辨力：0
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詳細(xì)摘要： 沖擊試樣缺口拉床（液壓、手動(dòng)）沖擊試樣缺口拉床（液壓、手動(dòng)）概述UV系列手動(dòng)（或者電動(dòng)）結(jié)構(gòu)
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詳細(xì)摘要： CTS-50沖擊試樣缺口投影儀CTS-50沖擊試樣缺口投影儀概述CTS-50沖擊試樣缺口投影儀是專(zhuān)門(mén)用于檢查沖擊試樣缺口加工質(zhì)量的光學(xué)儀器，操作簡(jiǎn)便，檢查對(duì)比直...
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詳細(xì)摘要： TWC系列沖擊試驗(yàn)低溫槽TWC系列沖擊試驗(yàn)低溫槽概述TWC系列沖擊試驗(yàn)低溫槽，是一種與沖擊試驗(yàn)機(jī)配套為其試樣提供低溫環(huán)境的一種專(zhuān)用試驗(yàn)設(shè)備，用于低溫沖擊試驗(yàn)時(shí)冷...
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詳細(xì)摘要： 維氏測(cè)量系統(tǒng)維氏測(cè)量系統(tǒng)概況介紹本顯微/維氏/努氏硬度測(cè)量軟件按用戶(hù)需求提供4個(gè)版本，每下一個(gè)版本包含上一個(gè)版本的所有功能:基本版:基本版提供一個(gè)USB攝像頭和...
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詳細(xì)摘要： 維氏（顯微）硬度標(biāo)準(zhǔn)塊產(chǎn)品屬性：維氏硬度試驗(yàn)方法是英國(guó)史密斯（R.L.Smith）和塞德蘭德（C.E.Sandland）于1925年提出的
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詳細(xì)摘要： 便攜式布氏測(cè)量系統(tǒng)流線設(shè)計(jì)：THB-P便攜式布氏硬度測(cè)量系統(tǒng)采用流線設(shè)計(jì)，外形時(shí)尚，手感舒適
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